什么是長期壽命試驗
1.長期儲存壽命試驗
我們把電子產(chǎn)品在規(guī)定的環(huán)境條件下非工作狀態(tài)的存放試驗稱為儲存壽命試驗。儲存 壽命試驗周期在1000小時以上者稱為長期儲存壽命試驗。如半導體三極管總技術條件中規(guī) 定，每種型號的半導體三極管，每年應取一定數(shù)量的管子,存放在一 10X：?40X：,相對濕度 不大于80%的干燥通風且無腐蝕性氣體的倉庫內。*年內每季度,以后每半年全面測量 一次電參數(shù)，并觀察表面。儲存3?5年后整理書面資料，供提髙產(chǎn)品質量時參考。
長期儲存壽命試驗的目的是要了解產(chǎn)品在特定環(huán)境下儲存的可靠性。元器件裝配成 整機前，可能要儲存數(shù)年或更長的時間。在這么長的時間內，這些元器件能不能保持其原 有特性指標?這些元器件參數(shù)的變化規(guī)律如何?失效機理是什么,等等，這些都需要通過儲 存壽命試驗來回答。
長期儲存壽命試驗方法較簡單，只需要將樣品存放在一定的環(huán)境條件下,定期地進行 測試分析就行。但儲存試驗由于樣品處于非工作狀態(tài),失效率比較低，通常要抽出比較多 的樣品進行長期的試驗，周期一般長達35年。
長期儲存壽命試驗所積累的數(shù)據(jù)對于預測元器件和整機的儲存可靠性很有價值。通過元器件儲存試驗獲得的數(shù)據(jù)可幫 助預測試品儲存壽命。因此,元器件生產(chǎn)單位應該有計劃有目的地對所生產(chǎn)的元器件 進行長期儲存試驗，這不但有利于評價和改進元器件質量，也有助于整機單位合理選用元 器件及做好整機的可靠性預測工作。